?。?）測試程序編寫　

　　依照IC需要測試項目編寫測試程序，程序編寫可以利用圖像(Icon)拉圖的方式編寫，使用者只要在該測試圖像中輸入測試的參數(shù)就可以。此種使用方式對于測試程序編寫較為容易。另一種是使用“指令”（Command）方式編寫測試程序，此種方式較為復雜，使用者需要熟記指令的語法，但對于特殊的IC測試應用，指令的使用則較拉圖方式來得更有彈性且方便。

　　（3）時序圖顯示（Logic Waveform）

　　該功能可以記錄及顯示IC測機輸出信號的波形及DUT IC輸出信號的波形，若DUT IC輸出的信號和Test Pattern不一樣該時序圖顯示功能也能顯示出來。

　?。?）測試程序除錯（Debugging）

　　可以顯示各種量測的結果,同時也讓使用者直接修改測試參數(shù)，并可以立即量測。

　?。?）Shmoo分析

　　可量測及分析IC的電氣特性，使用者可以設定一個或多個測試參數(shù)的范圍值后，再量測IC，以得知IC在某測試范圍其功能會正常，在某測試范圍會發(fā)生異常，如此就可以得知該IC的使用電氣特性。

　?。?）測試結果（Summary Report）

　　IC測試機會將IC所測試的項目及測試值顯示及記錄下來，同時也會將IC依照測試程序的設定，將不同測試項目的結果給予分類及統(tǒng)計，以作為測試生產報表使用。

　　3 總結

　　IC測試機除了給IC代工測試廠，作為IC測試使用之需要，同時也可以給IC設計公司，作為IC工程驗證使用，它是十分方便且有用的設備，然而卻發(fā)現(xiàn)IC測試的需要較高于IC測試機所能提供的測試功能，其原因不外乎是當IC有研發(fā)出來的新功能時，IC測試機才會要開始開始研發(fā)該部分的測試功能，故IC測試機總是無法完全滿足使用IC功能的測試需要，因為如此，IC測試將提供給每位IC測試工程師及IC測試機制造廠一個很大的努力空間，最后期望于未來將有更多的優(yōu)秀工程師能投入IC測試的領域，彼此相互研究及分享IC測試的經驗，進而提高IC測試技術。