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PCB設(shè)計(jì)與ICT在線測(cè)試

 

前言
今日電子產(chǎn)品愈輕薄短小,PCB之設(shè)計(jì)布線也愈趨復(fù)雜困難。除需兼顧功能性與安全性外,更需可生產(chǎn)及可測(cè)試。茲就可測(cè)性之需求提供規(guī)則供設(shè)計(jì)布線工程師參考,如能注意之,將可為貴公司省下可觀之

ICT治具制作費(fèi)用并增進(jìn)測(cè)試之可靠性與ICT治具之使用壽命。
可取用之規(guī)則
? 雖然有雙面
ICT治具,但最好將被測(cè)點(diǎn)放在同一面。
? 被測(cè)點(diǎn)優(yōu)先順序:A.測(cè)墊(Testpad) B.零件腳(Component Lead) C.貫穿孔(Via)
? 兩被測(cè)點(diǎn)或被測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于0.050"(1.27mm)。以大于0.100"(2.54mm)為佳,其次是0.075"(1.905mm)
? 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少0.100",如為高于3m/m零件,則應(yīng)至少間距0.120"。
? 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB表面,避免局部密度過(guò)高。
? 被測(cè)點(diǎn)直徑最好能不小于0.035"(0.9mm),如在上針板,則最好不小于0.040"(1.00mm),形狀以正方形較佳(可測(cè)面積較圓形增加21%)。小于0.030"之被測(cè)點(diǎn)需額外加工,以導(dǎo)正目標(biāo)。
? 被測(cè)點(diǎn)的Pad及Via不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。
? 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少0.100"。
? PCB厚度至少要0.062"(1.35mm),厚度少于此值之PCB容易板彎,需特殊處理。
? 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為0.125"(.3.175mm)。其公差應(yīng)在"+0.002"/-0.001"。其位置應(yīng)在PCB之對(duì)角。
? 被測(cè)點(diǎn)至定位孔位置公差應(yīng)為+/-0.002"。
? 避免將被測(cè)點(diǎn)置于SMT零件上,非但可測(cè)面積太小,不可靠,而且容易傷害零件。
? 避免使用過(guò)長(zhǎng)零件腳(大于0.170"(4.3mm))或過(guò)大的孔徑(大于1.5mm)為被測(cè)點(diǎn),需特殊處理。
ICT治具制作所需資料
? Layout CAD File:例如: PCADR-->* .pdf PADSR--> *.asc
? PCB空板一片(請(qǐng)注意版本及連片問(wèn)題)
? 待測(cè)實(shí)體板一片
? BOM
? 線路圖
ICT治具PCB LAYOUT 配合事項(xiàng)
? 每一銅箔不論形狀如,至少需要一個(gè)可測(cè)試點(diǎn)。
? 測(cè)試點(diǎn)位置考慮順序:
1. ACI插件零件腳優(yōu)先考慮為測(cè)試點(diǎn)。
2. 銅箔露銅部份(測(cè)試PAD),但最好吃錫。
3. 立式零件插件腳。
4. Through Hole不可有Mask。

? 測(cè)試點(diǎn)直徑
1.1m/m以上,以一般控針可達(dá)到測(cè)試效果。
2.1m/m以下,則須用較精密探針增加制造成本。
3.PAD接觸性須好。
? 測(cè)試點(diǎn)形狀,圓形或正方形均可。

(均可,并無(wú)一定限制)
? 點(diǎn)與點(diǎn)間的間距須大于2m/m(中心點(diǎn)對(duì)中心點(diǎn))。

? 雙面PCB的要求:以能做成單面測(cè)試為考慮重點(diǎn) 1. SMD面走線最少須有1 through hole貫穿至dip面,以便充當(dāng)為測(cè)試點(diǎn),由dip面進(jìn)行測(cè)試。 2. 若through hole須mask時(shí),則須考慮于through hole旁lay測(cè)試pad。 3. 若無(wú)法做成單面,則以雙面治具方式制作。
? 空腳在可允許的范圍內(nèi),應(yīng)考慮可測(cè)試性,無(wú)測(cè)試點(diǎn)時(shí),則須拉點(diǎn)。
? Back Up Battery最好有Jumper,于
ICT測(cè)試時(shí),能有效隔離電路。
? 定位孔要求
1. 每一片PCB須有2個(gè)定位孔,且孔內(nèi)不能沾錫。
2. 選擇以對(duì)角線,距離最遠(yuǎn)之2孔為定位孔。

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